低价格、半导体硅片测温专用型
红外测温仪DT40P
测温范围：300~1300℃ ，400~1400℃ ，500~2500℃
波长：3.43μm
最小可测目标：Φ1.6mm @ 95mm
主要应用：
1) 半导体制造硅片测温
2) 塑料薄膜（聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙）
性能指标:
